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静電容量型走査プローブ顕微鏡(SCM)は、微細な表面形状や材料の特性を解析するための革新的なツールです。半導体素子の製造において欠かせない存在であり、材料開発やバイオテクノロジーなどの分野でも幅広く応用されています。 本記事では、SCMの原理や測...

半導体は現代の電子機器に欠かせない素材であるため、表面の構造や性質を正確に把握することは非常に重要です。半導体表面分析技術は、表面の組成、構造、形状、および物理的特性を調べるために使用されます。本記事では、半導体表面分析技術の進歩と現在...